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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀中國代理

OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。光譜測量可在短短 5 ms 內完成。標準儀器的光纖允許各種測量系統，而無需指定樣品種類。除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀中國代理

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OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。
OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計代理

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OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計代理

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OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計代理

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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
OTSUKA大塚電子nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎代理

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OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎代理

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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎代理

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江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統 GS-300實現嵌入晶圓中的布線圖案的圖案對齊 GS-300滿足半導體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對齊功能
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。
浙江OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

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