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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M(jìn)行全幅、全長測量的裝置。
通過在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進(jìn)行500mm寬(1臺使用時(shí))的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
詳情介紹：
OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
通過在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01 秒的測定間隔，可以進(jìn)行500mm寬(1臺使用時(shí))的薄膜的膜厚測定。
特長OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
通過采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)沒有“脫落”的全長和全長膠卷檢查
硬軟件一起設(shè)計(jì)原創(chuàng)設(shè)計(jì)
因?yàn)槭悄ず駵y定的專門制造廠，所以能夠充實(shí)的支持
高精度測量（取得磚利）
高速可以測量
強(qiáng)制性強(qiáng)
寬的樣本（可以在TD方向*大10m測量）
仕様
| 測定項(xiàng)目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm |
| 測定幅 | 500mm |
| 波長範(fàn)囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子當(dāng)たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範(fàn)囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
測定例
500mm幅の包裝用フィルムの場合
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