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產品名稱：參考測量儀RETS-100nx
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

它是一種相位差測量設備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。實現與超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度測量。可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，可支持由于樣品重新定位而導致的未對準，從而實現了簡單而高度**的測量。

詳情介紹：

特殊長度

高精度測量只能通過獨特的光譜儀完成

■高精度

多高精度由波長測量實現
λ/ 4，λ/ 2之類的難以在短波長下測量的結果可以作為近似值獲得。可以不受膜厚干擾波形的影響而獲得結果。
<確切原因>
的，專有的高性能的多通道光譜儀使用
它可以得到多的信息傳輸，可實現高**度的測量
（獲得透射率信息是約500米的波長，約50倍的其他公司的產品）

■寬廣的測量范圍（保留范圍：0至60000 nm）

■寬廣的測量范圍即使強度相同，也可以根據其他波長數據進行計算。

■了解延遲波長色散形狀

■可以測量顯示出延遲波長色散形狀的反向色散樣本。

超高延遲測量-超雙折射膜的高速高精度測量-

■高延遲
■高延遲測量即使具有如此高的延遲，也可以使用獨特的算法在沒有參數的情況下進行分析。
超高Re.60000nm兼容

多層測量-各種膜的層壓狀態的無損和無損測量，不剝離-

多層測量無需剝離，可以按原樣進行測量

車軸角度校正功能-即使樣品安裝未對準，也可輕松，輕松地進行測量-

■
更換樣品10次，并比較有無角度校正的結果[樣品：相差膜R85]

放置樣品10次，并在有和沒有角度校正的情況下比較結果。無校正：由于重新定位而引起的變化：0.13，具有校正：由于重新定位而引起的變化：0.013以下

簡單的軟件-大大減少了測量時間和處理時間。大大提高了可操作性-

簡易軟件所有操作均可在一個屏幕上完成！

產品信息
規格
光學系統

	相差膜/光學材料檢查裝置RETS-100
	高速相位差測量儀RE-200
	膜厚計FE-300
	光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S
	多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800
	量子效率測量系統QE-2000 / 2100
	單元間隙檢查裝置RETS系列

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產品名稱：參考測量儀RETS-100nx

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