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產品名稱：UENO上野精機外觀檢查裝置RT-Wafer
產品型號：
產品廠商：UENO上野精機
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簡單介紹：

晶圓送料、晶圓環(huán)漿入庫外觀檢測設備。也可以對透明體進行內部檢查。好的產品被粘貼在晶圓環(huán)上。有缺陷的產品存放在托盤中。

詳情介紹：

特征	晶圓供應好的產品附著在晶圓上，有缺陷的產品存儲在托盤中。無損交付（磚利技術）超緊湊型 WLCSP，與裸片兼容通過 6 面目視檢測進行微裂紋檢測可以對透明材料（光學元件）進行內部檢查。
生產力	20，000UPH （180ms 循環(huán)時間）
準備	晶圓（6、8、12英寸）
收據(jù)	威化（6，8英寸），托盤（JEDEC，華夫餅）
涵蓋的產品	WLCSP 熊死光學元件功率器件分立半導體福爾普電子元器件
目標商品尺寸	小 0.5 x 0.5 毫米，大 10 x 10 毫米
相關關鍵詞	12寸 5S 8寸。.AI 自來酸自來酸電弧模塊裝配設備啪啪?? 丁二苯乙烯載帶 CK 彩色相機轉換套件裂紋光熱發(fā)電深度學習錐度去膠帶 DFN 離散電磁干擾涂層空翻處理器孔裝置孔集成電路集成電路紅外克格德激光激光打標激光雷達大規(guī)模集成電路微機電系統(tǒng) 微米模具多箱非接觸對準光學器件操作系統(tǒng) 包裝者無源元件帕金森拾取器新伙伴關系 QFN R2R 重建室溫鋸抓半導體傳感器卷帶錐錄音測試處理程序測試儀 TNR 托夫 UPH VCSEL 視覺檢測機 W2膠帶晶片 WLCSP

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產品名稱：UENO上野精機外觀檢查裝置RT-Wafer