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OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A1Otsuka大塚

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ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統

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ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000分子粒徑量測系統

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彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢

彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES
日本大冢低相位差高速檢查設備

日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200
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日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000
OTSUKA大冢液晶層間隙量測設備

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日本大冢高速配光測量系統GP-7

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