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     代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等)、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
  
 
    
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                  可以立即測量優(yōu)良量子效率(優(yōu)良量子產(chǎn)率)。與粉末,溶液,固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區(qū)域中的雜散光。另外,通過采用集成的半球單元,可以實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng),并且通過利用此優(yōu)勢的再激發(fā)熒光校正,可以執(zhí)行高精度的測量。此外,QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性,并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
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                  它是一種相位差測量設(shè)備,可支持所有類型的膜,例如OLED偏振片,層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實(shí)現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速,高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。 此外,它配備了簡單的軟件和校正功能,可支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的未對準(zhǔn),從而實(shí)現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
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                  “紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)IL100”評估光源在紫外區(qū)域中的輻照度。 ?從分光光度計(jì)測量可高精度地測量照度? 從紫外線到可見光的測量波長范圍寬 ?可選擇適合于高斜入射特性等應(yīng)用的照度頭·可 用于生物系統(tǒng)評估中不可缺少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也可以實(shí)現(xiàn)高精度測量的設(shè)備。
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                  評估紫外線區(qū)域中光源的輻射度。 ? 通過分光輻射度測量可以高精度地測量亮度?支持紫外,可見光和紅外的寬波長測量范圍?可以進(jìn)行光生物學(xué) **性評估 它是可以測量紫外線亮度的受限設(shè)備。
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                  評估UV LED的光分布特性。 ?根據(jù)輻射強(qiáng)度/輻照度評估光分布 ?通過光譜光分布評估每個(gè)波長的輻射強(qiáng)度 可視化**和樹脂固化光源的不均勻輻射。
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                  評估UV LED的輻射通量。 ?高性能紫外線LED的輸出評估? 結(jié)合溫度控制單元的溫度評估 支持 UV-LED的 光學(xué)特性評估,該技術(shù)有望進(jìn)行**,純化和樹脂固化。
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                  它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的裝置。 通過將原來的光譜干涉法與*新開發(fā)的高精度膜厚計(jì)算處理技術(shù)相結(jié)合,可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚(使用一個(gè)單元時(shí))。 0.01秒
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                  它可以測量從LED到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 ·通過控制光源的加熱/冷卻可以評估溫度特性 ·系統(tǒng)可以共同控制DC / AC電源。麻煩的操作所需的 測量精度是高集成度的半球,樣本集易于 測量的瓦特級(jí)大功率激光源相應(yīng)的 測量系統(tǒng)從多年的經(jīng)驗(yàn)可以對應(yīng)任何場景的總光通量測量,滿足了需求。
