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GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800
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MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
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IL100 OTSUKA大冢-照度測量系統 從分光放射照度測定中高精度地測定照度。 ·從紫外到可見、紅外的廣泛測量波長范圍。 ·可以選擇高斜入射特性等用途的照度頭。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以測定。 ·專用軟件點亮電源也統一控制。 OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢 是對基本的照度測定進行極限探究的裝置
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GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UV
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GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UV0UV
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GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 紫OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UV
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GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510U
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GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500
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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV測定裝置 OTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UV
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HM/FM series OTSUKA大冢-全光束測量系統 OTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM series，支持符合要求的測定系統。
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GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series的裝置。
